【48812】x射线测厚仪测验原理

时间: 2024-04-21 04:35:33 |   作者: 钕铁硼

  x射线测厚仪是现在涂镀层厚度测验几种惯例办法中为的一中丈量办法,相对于电磁感应/电涡流法和电解法/库仑法、x射线测厚仪具有不损伤原有设备的检测、对电镀目标形状和巨细就没有要求、丈量精准等特色,但相对而言其昂扬的价格也让许多客户望而生畏。

  x射线测厚仪测验原理也可以说是X射线荧光(XRF)仪器作业原理大约如下:

  x射线测厚仪对被测样品发射一束一次X射线,样品的原子吸收X射线的能量后被激起并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过丈量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度,X射线分析仪就可以对被测资料的镀层厚度和成份供给定性和定量分析。

  所以x-ray类型的厚度测验仪只能针对金属镀层,对非金属涂层如油漆、氧化膜等覆层不能丈量。

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