牛津 X射线X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量 ，从质量管理到成本节约存在广泛的应用行业用于电子元器件，半导体，PCB，端子连接器，LED支架和封装，汽车零部件，卫浴洁具，功能性电镀，装饰件，检验测试的机构和高校……多个行业表面镀层厚度的测量技术参数主要规格规格描述X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统空冷式微聚焦型X射线管，Be窗标准靶材：W靶功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准      装备有安全防射线光闸二次X射线个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选准直器程控交换系统Z多可同时装配6种规格的准直器多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、8、12、20mil等 －矩形，如1x2、2x2、0.

　　X产品是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器，可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等领域，为产品质量控制提供准确、快速的分析。基于Windows2000中文视窗系统的中文版SmartLink FP应用软件包，实现了对CMI900主机的全面自动化控制，分析中不需要任何手动调整或手动参数设定。可同时测定zui多5层、15种元素。数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。统计功能提供数据平均值、误差分析、zui大值、zui小值、数据变动范围、相对偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。

　　5000系列为侧窗口X光管。大范围的应用于许多工业领域，5000系列的电子枪封装于铅内衬不锈钢管中，并可以有选择性地配有安装法兰。 这种设计可使在2英寸以外的X射线mR/hr。管中装有我们设计的冷却油, 可进行Z有效地散热。可以用高压凹式连接器或无空气连接器和一个三轴连接器来提供灯丝电源。这种射线管在灯丝接地、阳极加正压的模式下工作，标准窗口是0.005英寸铍窗。XRF射线管，X射线管，XRF光管，X光管，牛津XRF射线管，Oxford X射线管，岛津XRF射线管，X-ray Tube，EDX射线管，X射线管更换 牛津X射线管：    牛津仪器射线技术集团的X光管产品品种多样，有多种靶材可供选择，非常适用于：测厚、RoHS检测、材料分析、密度测量、元素分析、X光衍射、荧光分析、X射线检测、X射线光谱。适用机型（X荧光光谱仪）：

　　美国CAL标准片，CALMETRIC标准片，CMI标准片，测厚仪标准片，CAL校正片，又称标准箔，膜厚片，通用于所有X射线镀层测厚仪(进口品PaiFischer、Oxford（CMI）、Thermo、Veeco、Micro Pioneer XRF-2000、Seiko SII等，国产天瑞，纳优等)。    测厚仪标准片又名膜厚仪校准片，专业用于X射线测厚仪（膜厚仪）在测金属镀层厚度时进行的标准化校准及建立测试档案。也就是我们在膜厚测试中常用的标准曲线法，是测量已知厚度或组成的标准样品，根据荧光X-射线的能量强度及相应镀层厚度的对应关系，来得到标准曲线。之后以此标准曲线来测量未知样品，以得到镀层厚度或组成比率。对于PCB、五金电镀与半导体等行业使用测厚仪来检测品质和控制成本起到了很重要的作用。      CAL镀层标准片适用于费希尔Fis

　　X产品/荧光光谱仪产品介绍： X产品/荧光光谱仪可为电镀客户提供更佳的X荧光测量方案，X射线从上向下照射样品，不同大小形状的样品更方便放置及测量。X产品/荧光光谱仪的手动操作系统为用户更好的提供方便可靠的镀层测厚、镀液分析、简单元素分析或贵金属分析方案。X产品/荧光光谱仪产品特点：标准配置为20倍彩色CCD系统用于样品图象观察；简易手动样品台，Z轴升降调节，简单易操作；单准直器及多准直器可选，激光对焦及定位系统，二次滤光片多种可选方式及封气式正比计数器。完善的X荧光分析软件基于基本信息参数法（FP法）或校正曲线法，确保了WM的测量结果。仪器易于操作，软件界面更具人性化。X产品/荧光光谱仪执行标准： 产品执行标准：DIN50987、ISO3497、ASTN.D568X产品/荧光光谱仪技术参数： X产品/荧...

　　X产品CMI900CMI900镀层测厚仪及X产品CMI900介绍CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析存在广泛的应用。用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。CMI900镀层测厚仪及X产品CMI900主要特征样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量) 可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素 精度高、稳定性好 强大的数据统计、处理功能 测量范围宽 NIST认证的标准片 服务及支持CMI900镀层测厚仪及X产品CMI900技术参数主要规格 规格描述 X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统 空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、M...

　　测厚仪CMI CMI900X产品产品简介仪器介绍CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析存在广泛的应用。用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。主要特征样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体（镀液中的元素含量） 可检测元素范围：Ti22 – U92 可同时测定5层/15种元素 精度高、稳定性好 强大的数据统计、处理功能 测量范围宽 NIST认证的标准片 服务及支持测厚仪CMI 详细的介绍CMI900X产品技术参数 主要规格 规格描述 X射线激发系统 垂直上照式X射线光学系统 空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－标准 75W（4-5...

　　技术参数 重 量： 基体配置1.2kg；1.6kg带电池 尺 寸： 长度：30cm；高度：23cm；宽度：7.5cm X射线发生器：银或钨靶微型X射线个过滤器 测量尺寸：接触样品表面测量时，7.75 mm X射线探测管：Si-PIN高分辨率探测系统 温度范围：-10℃—50℃ 电源： 可充电锂离子电池；含2块电池及充电器；AC转换器及多电池电源可选购。 参数调整：不锈钢316作为参考标准 主要特征HMX系统主要特征 无论体积多大的电镀件，HMX系统是理想的处理方法 对于QC、电镀线以及实验室分析等应用的现场测量 现场的样品分析 基材管理的合金分类以及合金确认 独特的“分组测量”模式，允许计算一组部件的平均厚度

　　企业类型：制造商 新旧程度：全新 原产地：江苏天瑞仪器股份有限公司 适用行业：电镀厂，电子厂、高低压配件厂 镀种：镀金银铜锡镍铬锌等 测量范围：0.005微米~50微米X产品江苏天瑞仪器股份有限公司产品简介Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于镀层行业的一款仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。应用领域黄金，铂，银等贵金属和各种首饰的含量检测.金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。大多数都用在贵金属加工和首饰加工行业；银行，首饰销售和检验测试的机构；电镀行业。 X产品江苏天瑞仪器股份有限公司性能特点满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求φ0.1mm的小孔准直...

　　企业类型：制造商 新旧程度：全新 原产地：昆山市玉山镇中华园西路1888号 适用行业：电镀厂，电子厂、高低压配件厂 镀种：镀金银铜锡镍铬锌等 测量范围：0.005微米~50微米 测试原理：X射线光谱仪分析原理天瑞X射线镀层测厚仪_膜厚分析仪产品特点 X产品品PaiThick800A用于镀锌，镀镍层，镀银层检测分析，天瑞是国内生产电镀层厚度分析仪的品Pai。Thick800A是天瑞集多年的经验，专门研发用于电镀层厚度检验测试分析的产品仪器，可全自动软件操作，可多点测试，由软件控制仪器的测试点，以及移动平台。是一款功能强大的仪器，配上专门为其开发的软件，在镀层行业中可谓大展身手。天瑞X射线镀层测厚仪_膜厚分析仪 公司介绍江苏天瑞仪器股份有限公司是具有自主知识产权的高科技企业，注册资本46176万。旗...

　　X产品，镀层测厚仪，镀层测厚仪测试原理，天瑞800A价格多少Thick800A是天瑞仪器镀层系列新产品中的“明星产品”，其配置基本达到了智能化水平，二维移动平台基本达到了三维效果，测试点与点之间的微小距离更加，采用上照式方式，满足多种规格产品的检测，降低了对产品规格的要求，满足拿来即测的需求，主要使用在在镀金、镀镍、镀锌、镀锡、镀铜、镀钯、镀铑、镀银等金属镀层厚度检验测试.如：印刷线路板上的IC导线，接触针及导体的零件等测量要求比较高 ,一般而言，测量镀膜厚度基本上需符合下述的要求： 1.不破坏的测量下具高精密度。 2.极小的测定面积。 3.中间镀膜及素材的成份对测量值不产生影响。 4.同时且互不干扰的测量上层及中间镀膜 。 5.同时测量双合金的镀膜厚及成份。 而X-射线荧光法就可在不受素材及不同中间膜的影响下得到高精密度的测量。 二.主要特...