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　　X射线电镀测厚仪是使用XRF原理来剖析丈量金属厚度及物质成分，可用于资料的涂层/镀层厚度、资料组成和贵金属含量检测。

　　丈量镀金、镀银,镀铜,镀镍,镀铬,镀锌,镀锡,镀钯等、薄膜、元素的成分或者是厚度，其可侦测元素的规模：Ti(22)~U(92)。

　　相容Microsoft微软作业体系之丈量软，操作快捷，直接可用Office软体修改陈述。

　　标準ROI软体调配内建多种专业陈述格局，亦可将数据、图形、计算等作成完好陈述。

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　　同比其他牌子相同装备的机器，XRF2000为您十分大地节约本钱。只需数秒钟,便能非损坏性地得到精确的丈量成果

　　乃至是多层镀层的样品也相同能担任。全主动XYZ样品台，镭射主动对焦体系，十字线主动调整。超大/开放式的样品台，

　　可丈量较大的产品。是线路板、五金电镀、首饰、端子等职业的*。可丈量各类金属层、合金层厚度等。

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