电位和粒径测定之外还能进行分子量测定。为了更好的进步粒度散布的解析才能，选用了多散射视点测定。别的，也可完成丈量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶网状结构剖析等全新功用。

  全新的ZETA电位平板固体样品池，通过新开发的对应高盐浓度的涂层，能够在生理盐水等高盐浓度环境下进行丈量。

  就能测定粒径的超微量样品池也位列其间，然后扩展了生命科学范畴测验的各种可能性。此外还能够直接进行主动温度梯度丈量的蛋白质变性和相变温度剖析。

  电位丈量●通过多视点测定，可对应丈量分辩更高的粒径散布●能够在高盐浓度下丈量固体样品外表的zeta电位

  ●通过静态光散射法可丈量粒子的浓度●能过动态光散射法进行微流变学剖析（粘弹性）●通过丈量凝胶样品在多个点的散射强度和分散系数，能够剖析凝胶的网络结构和不均匀性。

  十分适用于界面化学、无机物质、半导体、聚合物、生物学、制药和医学范畴的基础研讨和应用研讨，不只触及细小颗粒，还触及薄膜和平板外表的科学研讨。

  ●新式功用资料范畴燃料电池相关（碳纳米管、富勒烯、功用膜、催化剂、纳米金属）

  浮游选定矿藏的捕集资料的搜集和研讨浮●半导体范畴异物附着在硅晶片外表的原理解析

  ELSZ Series通过实践测理样品内多点观察到的电泳移动度，能够承认丈量数据内ZETA电位散布的再现性及断定杂质的波峰。

  实测样品池高度方向各层观测粒子的电泳移动度，依据所得到的电渗流Profile可剖分出固体外表电渗流速度，从而求得平板样品外表的ZETA电位。

  搭载的规范样品池的丈量规模扩展，可丈量稀溶液样品及至高浓度溶液样品，而且，通过选用FST法的高浓度样品池可丈量高浓度样品范畴的ZETA电位。

  众所周知，静态光散射法能轻松丈量肯定分子量。丈量原理为，将光线照射在溶液分子上能够取得散射光，依据散射光的肯定值求取分子量，即利用了大分子可得到强散射光，小分子可得到弱散射光的现象。

  A2.分子量较大的分子，散射强度会因视点而不同。分子量籍由丈量不同散射视点（θ）的散射强度不但可进步测精度，也可取得分子分散目标的回转半径。

  A2=0时，代表溶剂为抱负溶剂，此刻温度被称为抱负温度，排挤与吸引力处于平衡状况，易发生结晶化。

  通过丈量凝胶样品在多个点的散射强度和分散系数，能够剖析凝胶的网络结构和不均匀性。

  立异点：ELSZ-neo比较上一代ELSZ-2000选用了最新的变角散射技能，完成了粒径的多视点丈量（前方、侧方、后方）；别的通过静态光散射法ELSZ-neo能够核算溶液傍边粒子的浓度；新增的微流变学丈量功用能对聚合物和蛋白质等样品进行粘弹性剖析；通过丈量凝胶样品在多个点的散射强度和分散系数，能够剖析凝胶的网络结构和不均匀性。